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MIRTEC MV-6EM MV-7 2D/3D获得中国NEPCON创新奖
作者:管理员    发布于:2016-10-25 09:47:20    文字:【】【】【
摘要:MIRTEC MV-6EM MV-7 2D/3D获得中国NEPCON创新奖
MIRTEC,“全球检测技术领导者”,宣布其产品MV- 7OMNI获得2014年EM Asia测试与测量/检测系统类别AOI创新奖。颁奖仪式在2014年4月24日上海世博会展中心中国NEPCON展举行。
     MIRTEC革命性的MV- 7 OMNI 2D/3D AOI系列产品获得中国NEPCON创新奖
 
      MIRTEC, “全球检测技术领导者”,宣布其产品MV- 7 OMNI获得2014年EM Asia测试与测量/检测系统类别AOI创新奖。颁奖仪式在2014年4月24日上海世博会展中心中国NEPCON展举行。
 
    MV-7 OMNI 2D/3D在线AOI机配置了MIRTEC的OMNI- VISION ® 2D/3D检测技术,独家结合MIRTEC革命性的数字多频四莫尔3D系统和15MP 2D ISIS的视觉系统,能够提供在成品印刷电路板组件上的SMT设备的精密检测。除了15万像素的自顶向下的相机,MV - 7 OMNI还采用了四个10万像素的侧视摄像头。
 
      MIRTEC的北美销售和服务部总裁布赖恩达米科说:” 我们很荣幸MV- 7 OMNI系列能赢得今年的EM Asia创新奖,我们这个系列产品的设计和开发的目标以可承受的价格提供最先进的2D/3D检测技术,满足日益增长的市场需求!我们相信,这种先进的技术不仅提供电子检测行业里前所未有的速度和性能,也无疑树立了衡量所有其他检测设备的新标准。
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脚注信息